- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/2251 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p.ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en mesurant l'émission secondaire de matériaux en utilisant des microsondes électroniques ou ioniques en utilisant des faisceaux d’électrons incidents, p.ex. la microscopie électronique à balayage [SEM]
Détention brevets de la classe G01N 23/2251
Brevets de cette classe: 575
Historique des publications depuis 10 ans
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2015 | 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 |
Propriétaires principaux
Proprétaire |
Total
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Cette classe
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Hitachi High-Tech Corporation | 4424 |
81 |
ASML Netherlands B.V. | 6816 |
52 |
NuFlare Technology, Inc. | 770 |
31 |
KLA Corporation | 1223 |
22 |
Applied Materials Israel, Ltd. | 549 |
17 |
KLA-Tencor Corporation | 2574 |
17 |
Applied Materials, Inc. | 16587 |
15 |
Samsung Electronics Co., Ltd. | 131630 |
14 |
FEI Company | 851 |
14 |
Saudi Arabian Oil Company | 11322 |
10 |
TASMIT, Inc. | 52 |
9 |
Techinsights Inc. | 92 |
8 |
Carl Zeiss SMT GmbH | 2646 |
6 |
JFE Steel Corporation | 6067 |
6 |
National Institute for Materials Science | 1108 |
6 |
Nikon Corporation | 7162 |
5 |
Carl Zeiss Microscopy GmbH | 1146 |
5 |
Oxford Instruments NanoTechnology Tools Limited | 145 |
5 |
Hitachi High-Technologies Corporation | 2034 |
4 |
Nova Measuring Instruments Inc. | 59 |
4 |
Autres propriétaires | 244 |